FeSuMa 2.0

FeSuMa® (Fermi Surface Mapper) ist ein Elektronenspektrometer zur Untersuchung der elektronischen Struktur von Materialien. Das Konzept des Geräts basiert, anders als bei herkömmlichen Analysatoren, auf der 2D-Winkelverteilung. Dies bedeutet, dass die Winkelverteilung, die den Elektronen innerhalb des schmalen Energieintervalls auf der Fermi-Ebene entspricht, auf einmal erfasst werden kann, wodurch direkt und unmittelbar die hochauflösende Abbildung der Fermi-Fläche entsteht. Die Energieverteilung kann durch Differenzierung der Reihenfolge der bei verschiedenen Schwellenenergien aufgezeichneten Darstellungen erhalten werden. Siehe das unter diesem Link erläuterte Funktionsprinzip.*

Anwendungen:

  • 3D-Fermi-Flächen einkristallinen Festkörper
  • niedrigenergetische elektronische Struktur
  • Qualitätskontrolle von MBE-gezüchteten Dünnfilmen.

Vorteile von FeSuMa:

  • geeignet für jede Laser-, Labor- oder Synchrotron-basierte fokussierte monochromatische Lichtquelle ohne höhere Ordnungen
  • schnelle Akquisitionszeiten
  • keine Notwendigkeit, die Probenposition oder den Elektronenstrahl für die Messungen der Fermi-Fläche zu manipulieren
  • isotrope Winkelauflösung
  • optische Kontrolle der Probenqualität
  • hochpräzise Stromversorgungen
  • Steuerung direkt durch Igor Pro-Software
  • kompaktes Design.

Vier Linsenmodi

  • Fourier-Modus 32°, Winkelauflösung ~0.2°
  • Fourier-Modus 28°, Winkelauflösung <0.2°
  • Fourier-Modus 16°, Winkelauflösung <0.2°
  • Direktmodus, räumliche Auflösung ~30 mu.

* Patentiert in Deutschland, USA, Japan und China. In EU zum Patent angemeldet.